Skip links

Сканирующий микроскоп Phenom Pharos

Сканирующий микроскоп Phenom Pharos

Настольный сканирующий электронный микроскоп  (Настольный СЭМ) Phenom Pharos. Phenom Pharos — сканирующий электронный микроскоп с источником полевой эмиссии с катодом Шоттки, детекторами SE, BSE и EDS микроанализом. Максимальное увеличение 1 000 000х; разрешение <3 нм; ускоряющее напряжение от 2 до 15 кВ.
Данный настольный СЭМ является уникальной моделью, вобравшей в себя все плюсы источника с полевой эмиссией и простоты работы с настольными СЭМ Phenom.  Время откачки составляет всего 25 секунд.

Описание

Особенности Оптическая камера: увеличение 20х-135х, цветная Цифровой зум: до 12х Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение — через 30 секунд.
Характеристики электронной пушки Катод c полевой эмиссией FEG Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ. Разрешение: <3 нм Расширенный режим, позволяющий устанавливать ускоряющее напряжение в диапазоне от 2 кВ -15 кВ.
Предметный столик Виды держателей: стандартный, для непроводящих образцов, для материалографических образцов (шлифов), для непроводящих материалографических образцов (шлифов) — максимальный диаметр 32 мм, высота 30 мм. для образцов керна — диаметр 25мм высота до 70 мм. Дополнительно устанавливаются вставки: для поперечного сечения ШхДхВ: 15х25х10, для образцов микроэлектроники ШхДхВ: 19х19х1,5, для микроинструмента и вытянутых по вертикали образцов высота до 100 мм вертикально, диаметр до 10 мм. Моторизованный держатель с возможностью наклона и вращения с углом наклона от -10° до +45°, поворот на 360°, диаметр образца до 12 мм, высота до 5 мм, масса до 60г. Держатель с возможностью нагрева и охлаждения: от -25° до +50°, точность 1,5°, образцы диаметром до 25 мм, высотой до 5 мм.
Рабочая камера нет
Детекторы Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов.
Вакуумная система Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов.
Дополнительные аналитические возможности Энергодисперсионный микроанализатор (кремниевый дрейфовый детектор), термическое охлаждение без жидкого азота.
Управление системой Программный интерфейс на базе специализированного По Phenom для управления микроскопом. Монитор 19″, поворотно-нажимная кнопка для управления. Дополнительный монитор, клавиатура, мышь, для управления программным комплексом для микроанализа.
Получение изображений Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP. Размер изображения: 456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048.
Доступные программные функции Программный модуль Pro Sute, который позволяет использовать стандартные приложения: Automated Image Mapping -получение панорамных изображений. Remote User Interface — получение удаленного доступа к микроскопу. 3D Roughness Reconstruction — получение поверхности в виде 3D изображения и измерение шероховатости. Fibermetric — измерение микро и нано волокон. PoroMetric — автоматизированное измерение размеров пор, от 100 нм до 0.1 мм. ParticleMetric — измерение размеров и формы частиц.
Системные опции нет
Требования по установке нет

Отзывы

Отзывов пока нет.

Будьте первым, кто оставил отзыв на “Сканирующий микроскоп Phenom Pharos”

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

два × пять =

Отправляя сообщение, вы соглашаетесь на обработку персональных данных и принимаете Политику конфиденциальности.
×