Phenom Pharos
Сканирующий микроскоп Phenom Pharos
Настольный сканирующий электронный микроскоп (Настольный СЭМ) Phenom Pharos. Phenom Pharos — сканирующий электронный микроскоп с источником полевой эмиссии с катодом Шоттки, детекторами SE, BSE и EDS микроанализом. Максимальное увеличение 1 000 000х; разрешение <3 нм; ускоряющее напряжение от 2 до 15 кВ.
Данный настольный СЭМ является уникальной моделью, вобравшей в себя все плюсы источника с полевой эмиссией и простоты работы с настольными СЭМ Phenom. Время откачки составляет всего 25 секунд.
| Особенности | Оптическая камера: увеличение 20х-135х, цветная Цифровой зум: до 12х Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение — через 30 секунд. |
| Характеристики электронной пушки | Катод c полевой эмиссией FEG Ускоряющее напряжение: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ. Разрешение: <3 нм Расширенный режим, позволяющий устанавливать ускоряющее напряжение в диапазоне от 2 кВ -15 кВ. |
| Предметный столик | Виды держателей: стандартный, для непроводящих образцов, для материалографических образцов (шлифов), для непроводящих материалографических образцов (шлифов) — максимальный диаметр 32 мм, высота 30 мм. для образцов керна — диаметр 25мм высота до 70 мм. Дополнительно устанавливаются вставки: для поперечного сечения ШхДхВ: 15х25х10, для образцов микроэлектроники ШхДхВ: 19х19х1,5, для микроинструмента и вытянутых по вертикали образцов высота до 100 мм вертикально, диаметр до 10 мм. Моторизованный держатель с возможностью наклона и вращения с углом наклона от -10° до +45°, поворот на 360°, диаметр образца до 12 мм, высота до 5 мм, масса до 60г. Держатель с возможностью нагрева и охлаждения: от -25° до +50°, точность 1,5°, образцы диаметром до 25 мм, высотой до 5 мм. |
| Рабочая камера | нет |
| Детекторы | Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов. |
| Вакуумная система | Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов. |
| Дополнительные аналитические возможности | Энергодисперсионный микроанализатор (кремниевый дрейфовый детектор), термическое охлаждение без жидкого азота. |
| Управление системой | Программный интерфейс на базе специализированного По Phenom для управления микроскопом. Монитор 19″, поворотно-нажимная кнопка для управления. Дополнительный монитор, клавиатура, мышь, для управления программным комплексом для микроанализа. |
| Получение изображений | Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP. Размер изображения: 456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048. |
| Доступные программные функции | Программный модуль Pro Sute, который позволяет использовать стандартные приложения: Automated Image Mapping -получение панорамных изображений. Remote User Interface — получение удаленного доступа к микроскопу. 3D Roughness Reconstruction — получение поверхности в виде 3D изображения и измерение шероховатости. Fibermetric — измерение микро и нано волокон. PoroMetric — автоматизированное измерение размеров пор, от 100 нм до 0.1 мм. ParticleMetric — измерение размеров и формы частиц. |
| Системные опции | нет |
| Требования по установке | нет |
Похожие товары
