Биоптик CMI-400
Инвертированный оптический микроскоп Биоптик CMI-400
Металлографический инвертированный микроскоп БиОптик СМI-400 предназначен для исследования микроструктуры металлов в отраженном свете в светлом поле, темном поле, поляризации, ДИК контрасте. Применяется для работы с металлическими шлифами при определении структуры, включений, величины и среднего размера зерна, пористости и пр. Работает также в составе автоматического анализатора NEXSYS (утвержден как тип средств измерений).
Уточнить стоимостьОсобенности:
- Универсальный модульный микроскоп с широкими возможности для модернизации.
- В стандартную комплектацию уже входят длиннофокусные объективы, фото-видео выход, набор светофильтров, система простой поляризации.
- Дополнительно микроскоп может оснащаться системами темнопольного контраста и ДИК-контраста.
- Микроскоп может остащаться флуоресцентным модулем с широким выбором фильтров OMEGA или CHROMA и светодиодным или ртутным источником света.
-
- Микроскоп оснащается подвижным столиком с вставками различного диаметра, прижимной клипсой и вращающимся диском (для поляризации) или неподвижным столиком со съемным препаратоводителем для различного типа подложек или посуды.
- Микроскоп может поставляться в составе аппаратно-программного комплекса анализа изображений NEXYS, который является утвержденным типом средств измерений (свидельство RU.C.27.003.A №42307) и поставляется со свидетельством о поверке.
Технические параметры и варианты комплектации микроскопа:
Параметр Спецификация CMI-400 BF
CMI-400 DF
CMI-400 DFDIC
Тип микроскопа Инвертированный ● ● ● Оптическая система Скорректированная на бесконечность ● ● ● Визуальная насадка Эргономичная тринокулярная насадка, межзрачковое расстояние 53~75 мм,
угол наклона 45°● ● Окуляры WF10X/22 мм ●● ●● ●● WF10X/22 мм с перекрестием,
со шкалой 0.01 мм○ ○ ○ Револьвер объективов 5-ти позиционный револьвер ● ● ● Длиннофокусные объективы Plan 5X/0.10 WD=26.12 мм ○ Plan 10X/0.10 WD=20.20 мм ● Plan 20X/0.25 WD=8.80 мм ● Plan 40X/0.10 WD=3.68 мм ○ Plan 50X/0.40 WD=3.68 мм ● Plan 60X/0.10 WD=3.18 мм ○ Plan 80X/0.10 WD=1.28 мм ○ Plan 100X/0.85(Dry) WD=0.40 мм ● Plan BD5X/0.12 WD=9.70 мм ● Plan BD10X/0.25 WD=9.30 мм ● Plan BD20X/0.40 WD=7.23 мм ● Plan BD50X/0.70 WD=2.50 мм ● ● Plan BD40X/0.60 WD=3.00 мм ○ ○ Plan BD60X/0.70 WD=1.90 мм ○ ○ Plan BD80X/0.80 WD=0.80 мм ○ ○ Plan BD100X/0.85 WD=0.22 мм ○ ○ LMPlan5X/0.12 BDDIC WD=7.9 mm ● LMPlan10X/0.25 BDDIC WD=20.2 mm ● LMPlan20X/0.35 BDDIC WD=3.04 mm ● Столик прямоугольный столик с коаксиальным перемещением 242х200 мм; двухкоординатный, диапазон перемещений 30х30 мм ● ● ● Осветитель 6В 30 Вт галогенная лампа ● 12В 50 Вт галогенная лампа ● ● Фильтры Синий (Φ26) ● ● ● Зеленый (Φ26) ● ● ● Желтый (Φ26) ● ● ● Флуоресцентный модуль Светофильтры CHROMA или OMEGA ○ ○ ○ DIC модуль DIC модуль ● Поляризация Поляризатор и анализатор ● ● ● Адаптер C-Mount 1X ○ ○ ○ 0.5X ○ ○ ○ Цифровая камера см. раздел камеры к микроскопам ○ ○ ○ Программное обеспечение (внесено в реестр средств измерения, работает по ГОСТ)
NEXSYS ImageExpert™ Pro 3 Программа для количественного анализа изображений
ГОСТ 1778 анализ неметаллических включений ГОСТ 3443 (ASTM A536) анализ графитовых включений ГОСТ 5639, 21073-75 (ASTM E112, DIN 50601) анализ зеренной структуры ГОСТ 11878 определение количества альфа-фазы ГОСТ 8233 анализ микроструктуры сталей ГОСТ 1763 анализ глубины обезуглероженного слоя ГОСТ 801 анализ подшипниковой стали ГОСТ 9391 анализ пористости NEXSYS ImageExpert™ Sample 2
Программа для качественного анализа изображений структур методом сравнения с эталонными шкалами
ГОСТ 1778-70 Сталь. Металлографические методы определения неметаллических включений. ГОСТ 3443-87 Отливки из чугуна с различной формой графита. Методы определения структуры. ГОСТ 5639-82 Стали и сплавы. Методы выявления и определения величины зерна. ГОСТ 9391-80 Сплавы твёрдые спечённые. Методы определения пористости и микроструктуры. ГОСТ 21073-75 Металлы цветные. Определение величины зерна методом сравнения со шкалой микроструктур. ASTM E 112-96 Металлы. Методы определения среднего размера зерна. NEXSYS ImageExpert™ Gauge
Программа для съёмки и проведения простых геометрических измерений
NEXSYS ImageExpert™
Sequencer 4Программа создания
панорамных изображений